臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級
我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列。
在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
觀察與分析的靈活性 自動獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換！
可快速獲得元素分布圖*2
*1TM4000PlusⅡ的功能。
*2選配
使用Camera Navi*的話，就是如此簡單 Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
操作簡單且快捷 觀察圖像只需 3 分鐘。 可快速觀察圖像，并導出測試報告。 Report Creator可讓您輕松制作報告 只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告
可在低真空的條件下進行多種觀察 對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進行觀察。
高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理
樣品：研磨劑 加速電壓：20 kV 觀察信號：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像 放大倍率：10000 倍